M&M 2017在美國密蘇里州圣路易斯市成功召開
2017年8月6日-10日，在美國密蘇里州圣路易斯市成功召開了美國電鏡與顯微分析年會。本次會議的主題是“周年慶”，因為今年不僅是MSA(Microscopy Society of America)成立75周年，而且是MAS(Microanalysis Society)成立50周年，同時也是International Field Emission Society慶祝原子探針發明50周年慶。 中鏡科儀應邀參加本次會議，這不僅是中鏡科儀第一次出席國際會議，而且是唯一參展的中國企業。這是中鏡科儀發展史上具有里程碑意義的參展會議，同時標志著我們向國際電鏡領域邁出了重要的一步，讓我們向世界展示了中國民營企業勇于開拓、敢于擔當的魄力和信心。在會展期間我們得到了國際行業組織的幫助與支持，受到了眾多用戶的關注，并與參會的同行學者及相關企業進行了深入交流，體現了我們在國際市場的專業水平和產品地位，為中鏡科儀今后開展國際合作與技術交流奠定了良好的基礎。 本次會議與會者逾2000人，展商110家。第一天上午的兩個主會場報告分別是：2014年諾貝爾化學獎得主Eric Betzig的報告，題目為“Imaging Life at High Spatiotemporal Resolution”，以及來自LIGO Scientific Collaboration的成員—密歇根大學Keith Riles教授的報告，題目為“Detecting Massive Black Holes via Attometry”。接下來的三天半時間是分會場報告及海報演講，參會者根據自己的專業選擇感興趣的主題進行傾聽與討論。 通過本次會議，使我們更加清醒的認識到，我們不僅標志著中鏡科儀的國際品牌，我們還肩負著民族產品的重任，我們正在搭建著中國電鏡產品通往世界的橋梁。我們將以更加優質、更加專業、更加開放的姿態，面向世界，以“雄關漫道真如鐵，而今邁步從頭越”的雄心壯志，面向更廣闊的天地。
